Número do Painel
Autor
Instituição
UFSC
Tipo de Bolsa
PIBIC/CNPq
Orientador
CRISTIANI CAMPOS PLA CID
Depto
DEPARTAMENTO DE FÍSICA / FSC/CFM
Centro
CENTRO DE CIENCIAS FISICAS E MATEMATICAS
Laboratório
Laboratório de Filmes Finos e Superfícies
Grande Área / Área do Conhecimento
Ciências Exatas e da Terra /Ciências Exatas e da Terra
Sub-área do Conhecimento
Física
Titulo
Estudo das propriedades estruturais e opto-eletrônicas de óxidos e semicondutores
Resumo

A técnica de espectroscopia UV-Vis para a caracterização ótica de filmes finos de seleneto de bismuto (Bi2Se3) foi objeto de estudo no período de bolsa PIBIC 2021/2022. O tema escolhido está em sintonia com os trabalhos em desenvolvimento no grupo de pesquisa Laboratório de Filmes Finos e Superfícies (LFFS). Importante indicar que o Plano de Trabalho prevê o uso da técnica de espectroscopia Raman para a caracterização estrutural. O estudo no período da bolsa foi adequado em função da acessibilidade ao equipamento no período da pandemia de COVID19. Isto posto, foram caracterizados filmes de Bi2Se3 com espessuras abaixo de 1 µm, crescidos sobre substratos de silício usando a técnica de eletrodeposição. Este é um semicondutor que pode apresentar diferentes fases cristalinas (hexagonal ou ortorrômbica) e valores de gap óptico que variam entre 0,3 e 1,3 eV, respectivamente. A motivação para o estudo deste material reside em suas propriedades físicas, a saber, as propriedades óticas de grande interesse no desenvolvimento de dispositivos nas áreas da microeletrônica e spintrônica. O objetivo geral do trabalho de Iniciação Científica (IC) no período foi apreender sobre a técnica de espectroscopia UV-Vis aplicada à caracterização ótica de filmes finos de Bi2Se3. Para isto, foram realizadas atividades de treinamento na operação do equipamento e interpretação de resultados. No período da pandemia com restrições na circulação de pessoas na Instituição, foram realizados estudos dirigidos e seminários semanais onde foi possível aprender sobre a técnica e suas aplicações. Deste modo, foi possível desenvolver as atividades de IC atendendo o objetivo do projeto apresentado no Edital, ao mesmo tempo que foram observadas as instruções indicas pela administração da UFSC.

Link do Videohttps://repositorio.ufsc.br/handle/123456789/239201
Palavras-chave
Intercalação de íons, Eletroquímica, Filmes finos, TEM, XRD, isolante topológico
Colaboradores

Pró-Reitoria de Pesquisa(PROPESQ) | Central Telefônica - (48) 3721-9332 | Email - piict@contato.ufsc.br