O desenvolvimento de técnicas e ferramentas para o projeto de circuitos integrados visando confiabilidade e eficiência energética tem como aplicações alvo sistemas críticos, como aviação, medicina, financeiros, onde falhas podem afetar severamente a vida humana. Este projeto iniciou com a proposta de avaliação de somadores e comparadores, por serem estes circuitos muito adotados em sistemas que demandam confiabilidade. Entretanto, a revisão literaria demonstrou que existe uma lacuna de conhecimento sobre o comportamento de circuitos maiores e mais complexos do que portas lógicas. Desta forma, este projeto aplica o foco de desenvolvimento de circuitos confiáveis, estendendo a avaliação para circuitos complexos e desenvolvendo um ambiente que permita a avaliação da confiabilidade destes circuitos aos efeitos de radiação. A análise de radiação de circuitos está relacionada ao desenvolvimento de hardware para aplicações de machine learning, principalmente para fins aeroespaciais.

Efeitos de radiação apresentam desafios no projeto de circuitos eletrônicos. A densidade elevada de transistores cada vez menores torna a avaliação de radiação um parâmetro chave no projeto de circuitos. Tais aplicações também exigem eficiência energética. Assim, é importante estudar o comportamento do circuito em diferentes tensões de alimentação. Este trabalho faz uma análise dos efeitos de radiação em diferentes de topologias para um circuito benchmark usando transistores FinFET 7 nm, focando em como o mapeamento lógico e a variabilidade afetam a susceptibilidade do circuito a falhas ligadas à radiação. Os circuitos foram análisados com tensões na faixa de 0.7 V a 0.4 V. A operação de circuitos abaixo de 0.5 V introduz 15% mais fragilidade nos circuitos avaliados. Os resultados mostram que explorar mapeamento lógico pode ser adotado para aumentar a robustez. O uso de portas NAND2 ao invés de NOR2 na saída dos circuitos melhora a robustez em aproximadamente 38,6%.