Número do Painel
Autor
Instituição
UFSC
Tipo de Bolsa
BIPI/UFSC
Orientador
CARLOS EDUARDO MADURO DE CAMPOS
Depto
DEPARTAMENTO DE FÍSICA / FSC/CFM
Centro
CENTRO DE CIENCIAS FISICAS E MATEMATICAS
Laboratório
Grande Área / Área do Conhecimento
Ciências Exatas e da Terra /Ciências Exatas e da Terra
Sub-área do Conhecimento
Física da Matéria Condensada
Titulo
Iniciação à cristalografia voltada ao estudo de cristais moleculares
Resumo

A bolsa teve como objetivo o estudo da teoria de Difração de Raios X por policristais, conceitos fundamentais da cristalografia, método de Rietveld, coleta e análise de dados de DRX de nanomateriais, iniciação sobre a preparação de amostras por síntese mecanoquímica no LSCnM e preparação de relatórios, resumos e pôsteres para eventos, conforme o cronograma estabelecido. Foi abordada a teoria básica de Difração de Raios X e da cristalografia utilizando livros e teses para aprofundamento. Em seguida, o estudo do método de Rietveld foi essencial para a análise quantitativa das fases nanocristalinas nas amostras previamente produzidas. Aprendizado sobre como amostras de Bi e Te foram obtidas pela síntese mecanoquímica e suas aplicações em dispositivos termoelétricos. A coleta de dados de DRX foi acompanhada de perto, garantindo aprendizado de como preparar as amostras, conhecer e ajustar o equipamento do LDRX-LAMPEF e como esses fatores afetam a qualidade dos dados. Com uso de programas computacionais de análise gráfica, busca em banco de dados e de análise pelo método de Rietveld, foram sugeridas possíveis estruturas e microestruturas (tamanho de cristalito e teor de defeitos) assumidas pelas amostras. A última atividade como bolsista PIBIC foi a apresentação de um pôster na seção de Nanomateriais do maior evento de Física da Matéria Condensada do Brasil (Encontro de Outono da Sociedade Brasileira de Física – EOSBF 2024), realizado em Florianópolis, dia 23 de maio de 2024.

Link do Videohttps://repositorio.ufsc.br/handle/123456789/259329
Palavras-chave
Nanomateriais, Mecanoquímica, Cristalografia, Difração de Raios X, Rietveld, Raman
Colaboradores

Pró-Reitoria de Pesquisa(PROPESQ) | Central Telefônica - (48) 3721-9332 | Email - piict@contato.ufsc.br