O estudo sobre caracterização de nanomateriais por Difração de Raios X (DRX) iniciou com o entendimento dos conceitos físicos que embasam essa técnica experimental (como os fenômenos de interferência e difração, passando pelo o entendimento de como funciona um difratômetro, etc.) e se aprofundou com temas sobre o método de Rietveld (escolha de um pacote de programas, nesse caso o GSAS) e como usá-lo para análise quantitativa de fases, refinamento de estruturas e modelagem da microestrutura (tamanho de domínios cristalinos e microdeformação) de materiais nanocristalinos. A definição do que são nanomateriais, sua importância tecnológica, quais suas aplicações e como são produzidos (com ênfase para a síntese mecanoquímica) também foram objetos de estudo durante o estágio de iniciação científica aqui reportado.

Palavras-chave: nanomateriais, DRX, GSAS, Método de Rietveld.