Número do Painel | |
Autor | |
Instituição | UFSC |
Tipo de Bolsa | BIPI/UFSC |
Orientador | CARLOS EDUARDO MADURO DE CAMPOS |
Depto | DEPARTAMENTO DE FÍSICA / FSC/CFM |
Centro | CENTRO DE CIENCIAS FISICAS E MATEMATICAS |
Laboratório | Laboratório de síntese e caracterização de nanomateriais |
Grande Área / Área do Conhecimento | Ciências Exatas e da Terra
/Ciências Exatas e da Terra |
Sub-área do Conhecimento | Física da Matéria Condensada |
Titulo | Técnicas Físicas no Estudo de Nanomateriais e Cristais Orgânicos |
Resumo | O plano de atividades da bolsa PIBIC foi executado quase em sua totalidade, exceto a redação de proposta ao Laboratório Nacional de Luz Síncrotron. A teoria básica da difração de raios-X (DRX) de policristais e os métodos de análise de dados experimentais, Rietveld e Espalhamento total foram o foco principal desse estágio. Acompanhei a síntese mecanoquímica de um composto de Ferro e Telúrio e sua caracterização no Laboratório de DRX (LDRX). Também participei de medidas no Microscópio Eletrônico de Transmissão do Laboratório Central de Microscopia Eletrônica (LCME-UFSC). No estudo da técnica de DRX de policristais calculei padrões de DRX simplificados, úteis para entender e aplicar a Lei de Bragg. Como introdução ao Método Rietveld e ao programa GSAS2 (General Structure Analysis System), obtive parâmetros instrumentais fazendo análises Rietveld de medidas de uma amostra padrão (LaB6) para diversas configurações do equipamento do LDRX-UFSC. Também aprendi a usar bancos de dados de estruturas cristalinas, como o ICSD (Inorganic Crystal Structure Database), que contém mais de 216 mil estruturas e seus cartões CIF (Crystallografic Information File), essenciais para análises de Rietveld. Na sequência analisei padrões de DRX de uma amostra de Enxofre puro, coletado no LDRX-UFSC em função da temperatura. Para isso pesquisei sobre alótropos desse elemento, o que permitiu identificar e obter os parâmetros de rede das fases α e β do Enxofre como função da temperatura. Com esses dados obtive os coeficientes de expansão térmica para a fase β, os quais apresentaram divergências em relação aos valores reportados na literatura. O entendimento dessas discrepâncias e o aprofundamento no estudo da DRX faz parte das perspectivas futuras do presente projeto de IC. |
Link do Video | https://repositorio.ufsc.br/handle/123456789/212200 |
Palavras-chave | Nano-cristais, Difração de Raios X, Rietveld, Espalhamento Total |
Colaboradores |